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![]() 用于确定用于监测拓扑元素和层厚度的高度差的接触轮廓测量方法的可能性和局限性
相关领域
轮廓仪
微电子
材料科学
图层(电子)
光学
光电子学
纳米技术
复合材料
表面光洁度
物理
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期刊:Nanostructures Mathematical Physics and Modelling 作者:А. А. Дедкова; Kireev V. Yu.; Makhiboroda M.A. 出版日期:2020-01-01 |
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