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 Simulation Studies on Single-Event Effects and the Mechanisms of SiC VDMOS from a Structural Perspective 从结构角度模拟SiC VDMOS的单事件效应及其机理
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期刊：Micromachines 作者：Tao Liu; Yuan Wang; Rongyao Ma; Hao Wu; Jingyu Tao; et al 出版日期：2023-05-18 |
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