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Defect control and Si/Ge core–shell heterojunction formation on silicon nanowire surfaces formed using the top-down method
自上而下法硅纳米线表面的缺陷控制和Si/Ge核壳异质结的形成
相关领域
材料科学
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期刊:Nanotechnology 作者:Naoki Fukata; Wipakorn Jevasuwan; Yong-Lie Sun; Yoshimasa Sugimoto 出版日期:2021-12-07 |
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