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 Alterations in the complex refractive index of copper oxide thin films as sensing effect for hydrogen sulfide monitoring 氧化铜薄膜复折射率的变化作为硫化氢监测的传感效应
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期刊：Microsystem Technologies 作者：Janosch Kneer; Manuel Boxberg; Sebastian Büsch; A. Eberhardt; Stefan Palzer; et al 出版日期：2013-11-28 |
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