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 Degradation of the ZT thermoelectric figure of merit in silicon when nanostructuring: From bulk to nanowires 纳米结构化时硅中ZT热电品质因数的退化：从体到纳米线
相关领域
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期刊：International Journal of Heat and Mass Transfer 作者：Martí Raya-Moreno; Riccardo Rurali; Xavier Cartoixà 出版日期：2024-03-06 |
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