标题 |
Quantitative Analysis and Characterization of Sidewall Defects in InGaN-Based Blue Micro-LEDs
InGaN基蓝色微型LED侧壁缺陷的定量分析与表征
相关领域
发光二极管
材料科学
表征(材料科学)
光电子学
纳米技术
|
网址 | |
DOI | |
其它 |
期刊:ACS Applied Electronic Materials 作者:Jeonghyeon Park; Won Seok Cho; Hojung Jang; Jawon Kim; Chuljong Yoo; et al 出版日期:2024-10-31 |
求助人 | |
下载 | 求助已完成,仅限求助人下载。 |
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|