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Transient Overshoot Voltages During VF-TLP Pulses for Bipolar Devices in the Presence of Lowly Doped Regions
低掺杂区存在下双极器件VF-TLP脉冲期间的瞬态过冲电压
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期刊:IEEE Transactions on Device and Materials Reliability 作者:Steffen Holland; Guido Notermans; Hans-Martin Ritter 出版日期:2020-12-01 |
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