标题 |
The Impact of Scaling on the Effects of Mixed-Mode Electrical Stress and Ionizing Radiation for 130-nm and 90-nm SiGe HBTs
标度对130纳米和90纳米SiGe HBTs混合模电应力和电离辐射效应的影响
相关领域
电离辐射
光电子学
材料科学
压力(语言学)
辐射
缩放比例
混合模式
模式(计算机接口)
辐照
物理
光学
计算机科学
复合材料
语言学
哲学
几何学
数学
核物理学
操作系统
|
网址 | |
DOI | |
其它 |
期刊: 作者:D. Nergui; Mehdi Hosseinzadeh; Y. A. Mensah; H. P. Lee; D. S. Shylu Sam; et al 出版日期:2024-04-14 |
求助人 | |
下载 | 该求助完结已超 24 小时,文件已从服务器自动删除,无法下载。 |
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|