Electron trapping effects in SiC Schottky diodes: Review and comment

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标题	Electron trapping effects in SiC Schottky diodes: Review and comment SiC肖特基二极管中的电子俘获效应相关领域肖特基二极管光电子学二极管材料科学肖特基势垒俘获碳化硅金属半导体结半导体工程物理宽禁带半导体半导体器件纳米技术工程类生物冶金生态学图层（电子）
网址	https://doi.org/10.1016/j.microrel.2021.114386
DOI	10.1016/j.microrel.2021.114386 doi
其它	期刊：Microelectronics Reliability 作者：Jordan R. Nicholls 出版日期：2021-12-01
求助人	Eden 在 2024-04-09 11:27:33 发布自孟加拉，悬赏 10 积分
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