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 Robust Breakdown Reliability and Improved Endurance in Hf0.5Zr0.5O2 Ferroelectric Using Grain Boundary Interruption 采用晶界中断的Hf0.5Zr 0.5 O2铁电材料的抗击穿可靠性和耐久性
相关领域
铁电性
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冶金
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期刊：IEEE Transactions on Electron Devices 作者：Yannan Xu; Yang Yang; Shengjie Zhao; Tiancheng Gong; Pengfei Jiang; et al 出版日期：2021-11-18 |
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