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Influence of vacuum annealing on interface properties of SiC (0001) MOS structures
真空退火对SiC(0001)MOS结构界面性质的影响
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期刊:Japanese Journal of Applied Physics 作者:Kōji Itō; Takuma Kobayashi; Tsunenobu Kimoto 出版日期:2019-05-29 |
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