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Aspect ratio-dependent leaning of a block array in 3D NAND flash memory
3D NAND闪存中块阵列的长宽比相关倾斜
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期刊:Microelectronics Reliability 作者:Beomsu Kim; Dong-Gwan Yoon; Jae-Min Sim; Yun‐Heub Song 出版日期:2024-05-17 |
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