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 In-situ transmission electron microscopy study of glissile grain boundary dislocation relaxation in a near Σ=3{111} grain boundary in copper 铜中近Σ=3{111}晶界中glissile晶界位错弛豫的原位透射电镜研究
相关领域
晶间腐蚀
晶界
退火（玻璃）
凝聚态物理
位错
材料科学
晶界强化
透射电子显微镜
铜
结晶学
冶金
化学
物理
微观结构
纳米技术
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期刊：Materials science and engineering. A, Structural materials: proporties, microstructures and processing/Materials science & engineering. A, Structural materials: properties, microstructure and processing 作者：Jean‐Philippe Couzinié; B. Décamps; L. Boulanger; L. Priester 出版日期：2005-07-01 |
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