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[高分] Low-aberration ExB deflector optics for scanning electron microscopy
用于扫描电子显微镜的低像差ExB偏转光学器件
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期刊:Microscopy 作者:Momoyo Enyama; Ryuji Nishi; Hiroyuki Ito; Jun Yamasaki 出版日期:2023-01-11 |
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