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Comprehensive Investigation of Shelf Life and Performance of Flexible Hybrid RRAM Devices With PVK:MoS2/TiO2 Bilayer
PVK:MoS2/TiO2双层柔性混合RRAM器件的保质期和性能综合研究
相关领域
电阻随机存取存储器
材料科学
双层
光电子学
锗化合物
纳米技术
电气工程
电压
硅
化学
工程类
生物化学
膜
锗
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期刊:IEEE Transactions on Electron Devices 作者:Shalu Saini; Anil Lodhi; Anurag Dwivedi; Arpit Khandelwal; Shree Prakash Tiwari 出版日期:2024-04-09 |
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