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Solutions to Overcome Warpage and Voiding Challenges in Fanout Wafer-level Packaging
克服扇出晶圆级封装中翘曲和空洞挑战的解决方案
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期刊:2022 IEEE 72nd Electronic Components and Technology Conference (ECTC) 作者:Vidya Jayaram; Vipul Mehta; Yiqun Bai; John C Decker 出版日期:2022-05-01 |
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