Failure Analysis and Research on Shielded-Gate Trench MOSFET

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标题	Failure Analysis and Research on Shielded-Gate Trench MOSFET 相关领域屏蔽电缆 MOSFET 沟槽电气工程光电子学材料科学计算机科学电子工程工程类晶体管纳米技术电压图层（电子）
网址	https://doi.org/10.1109/icept56209.2022.9873516
DOI	10.1109/icept56209.2022.9873516 doi
其它	期刊：作者：Shiman Xiao; Jun Chen; Wei Zou; Jiang Xia; Qunxing Liu 出版日期：2022-08-10
求助人	满意大门在 2024-11-20 18:30:15 发布自重庆，悬赏 10 积分
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