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 YOLO-IMF: An Improved YOLOv8 Algorithm for Surface Defect Detection in Industrial Manufacturing Field YOLO-IMF：一种用于工业制造领域表面缺陷检测的改进YOLOv8算法
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计算机科学
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| 其它 | Liu, Z., Ye, K. (2023). YOLO-IMF: An Improved YOLOv8 Algorithm for Surface Defect Detection in Industrial Manufacturing Field. In: He, S., Lai, J., Zhang, LJ. (eds) Metaverse – METAVERSE 2023. METAVERSE 2023. Lecture Notes in Computer Science, vol 14210. Springer, Cham. https://doi.org/10.1007/978-3-031-44754-9_2 |
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