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 69‐3: Examination of Degradation Analysis of p‐i‐n Type OLEDs Devices 69-3：P-I-N型OLED器件的劣化分析的检查
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期刊：SID Symposium Digest of Technical Papers 作者：Daichi Shirakura; Shinji Okamura; Yoshihiko Taguchi; Hikaru Takano; Takahiro Shibamori; et al 出版日期：2020-08-01 |
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