标题 |
Investigation of Indium-optimized IGZO TFT via Plasma Enhanced Atomic Layer Deposition Suitable for CMOS Backend of Line Integration
适用于CMOS线集成后端的等离子体增强原子层沉积铟优化IGZO TFT研究
相关领域
原子层沉积
薄膜晶体管
材料科学
生产线后端
CMOS芯片
图层(电子)
光电子学
铟
等离子体
沉积(地质)
纳米技术
计算机科学
电子工程
工程类
物理
古生物学
量子力学
沉积物
生物
|
网址 | |
DOI | |
其它 |
期刊:Extended Abstracts of the 2020 International Conference on Solid State Devices and Materials 作者:Meishan Zhang; Wenhui Wang; Jiqing Lu; Jun Lan; Haoran Peng; et al 出版日期:2024-09-03 |
求助人 | |
下载 | 暂无链接,等待应助者上传 |
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|