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 Smart-Redundancy With In Memory ECC Checking: Low-Power SEE-Resistant FPGA Architectures 具有内存ECC检查的智能冗余：低功耗抗SEE FPGA架构
相关领域
三模冗余
现场可编程门阵列
冗余（工程）
计算机科学
嵌入式系统
控制重构
异步通信
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计算机硬件
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计算机网络
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| 其它 |
期刊：IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems 作者：Aurélien Alacchi; Edouard Giacomin; Roman Gauchi; S. Kulis; Pierre‐Emmanuel Gaillardon 出版日期：2023-06-16 |
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