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Developing an Analysis Procedure and Dispersion Model for Pristine and W-Doped VO2 Thin Films Using Density Functional Theory and Spectroscopic Ellipsometry
用密度泛函理论和椭偏光谱法建立原始和掺W VO2薄膜的分析程序和色散模型
相关领域
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薄膜
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光学
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期刊:ACS Applied Materials & Interfaces 作者:Benedict S. Morris; Zahra Shayegan; Daniel Koch; Bruno Palpant; Mohamed Chaker 出版日期:2024-12-03 |
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