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 A Novel Multispectral Fusion Defect Detection Framework With Coarse-to-Fine Multispectral Registration 一种新的由粗到细多光谱配准的多光谱融合缺陷检测框架
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期刊：IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement 作者：J. Li; Bin Gao; Wai Lok Woo; Junjielong Xu; Lei Liu; et al 出版日期：2024-01-01 |
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