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Low-k a-SiCO:H films as diffusion barriers for advanced interconnects
低k a-SiCO:H薄膜作为先进互连的扩散阻挡层
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电介质
铜
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期刊:Microelectronic Engineering 作者:Els Van Besien; Arjun Singh; Y. Barbarin; Patrick Verdonck; Harold Dekkers; et al 出版日期:2013-12-19 |
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