标题 |
Studies of Fluorine-Induced Corrosion and Defects on Microchip Al Bondpads and Elimination Solutions
微芯片铝焊盘氟致腐蚀缺陷及消除方法研究
相关领域
材料科学
腐蚀
氟
冶金
化学
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DOI | |
其它 |
期刊:Proceedings 作者:Hua Younan; Nistala Ramesh Rao; Teong Jennifer 出版日期:2008-11-01 |
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