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 Studies of Fluorine-Induced Corrosion and Defects on Microchip Al Bondpads and Elimination Solutions 微芯片铝焊盘氟致腐蚀缺陷及消除方法研究
相关领域
材料科学
腐蚀
氟
冶金
化学
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期刊：Proceedings 作者：Hua Younan; Nistala Ramesh Rao; Teong Jennifer 出版日期：2008-11-01 |
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