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Necking Reduction at Low Temperature in Aspect Ratio Etching of SiO2 at CF4/H2/Ar Plasma
CF4/H2/Ar等离子体长宽比刻蚀SiO2的低温颈缩减少
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期刊:Nanomaterials 作者:Hee-Tae Kwon; In-Young Bang; Jae-Hyeon Kim; Hyeon-Jo Kim; Seong-Yong Lim; et al 出版日期:2024-01-17 |
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