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Gate Bias Effects on Hydrogen-Terminated Polycrystalline Diamond FETs
栅极偏压对氢端接多晶金刚石场效应晶体管的影响
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期刊:I.E.E.E. transactions on electron devices/IEEE transactions on electron devices 作者:Hongyue Wang; Yuebo Liu; Lei Ge; Mingsheng Xu; Yijun Shi; et al 出版日期:2024-01-01 |
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