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Solution-processed memristors: performance and reliability
解处理忆阻器的性能和可靠性
相关领域
记忆电阻器
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期刊:Nature Reviews Materials 作者:Sebastián Pazos; Xiangming Xu; Tianchao Guo; Kaichen Zhu; Husam N. Alshareef; et al 出版日期:2024-04-12 |
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