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  Determination of band offsets, hybridization, and exciton binding in 2D semiconductor heterostructures 二维半导体异质结构中能带偏移、杂化和激子结合的测定
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期刊：Science Advances 作者：Neil R. Wilson; Paul Nguyen; Kyle L. Seyler; Pasqual Rivera; Alexander J. Marsden; et al 出版日期：2017-02-03 |
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