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 Electrical instabilities in amorphous Si-Zn-sn-O thin film transistors under ultra-violet irradiation depending on oxygen content 非晶Si-Zn-sn-O薄膜晶体管在紫外辐照下的电不稳定性与氧含量的关系
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期刊：Solid-state Electronics 作者：M. Balaji; Sang Yeol Lee 出版日期：2022-11-19 |
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