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Interface morphology of Mo/Si multilayer systems with varying Mo layer thickness studied by EUV diffuse scattering
用EUV漫射散射研究不同Mo层厚度的Mo/Si多层体系的界面形貌
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期刊:Optics Express 作者:Anton Haase; Victor Soltwisch; Stefan Braun; Christian Laubis; Frank Scholze 出版日期:2017-06-22 |
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