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 Towards improving challenging stochastic defect detection in SEM images based on improved YOLOv5 基于改进的YOLOv5改进SEM图像中具有挑战性的随机缺陷检测
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期刊： 作者：Bappaditya Dey; Enrique Dehaerne; Sandip Halder 出版日期：2022-11-10 |
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