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Optimization of contact W related processes for 28/22 nm HKMG technology node
28/22nm HKMG技术节点接触W相关工艺的优化
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期刊:IEEE Electron Devices Technology and Manufacturing Conference 作者:Hai-Jin Lu; Zong-Yan Pan; Pei-Yu Chen; Zhi-Cheng Zhang; Ming-Zhi Chen 出版日期:2021-04-08 |
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