标题 |
Effect of thermal oxidative aging on cross-linking network and electrical property of silicone gel for IGBT packaging
热氧化老化对IGBT封装用硅凝胶交联网络及电性能的影响
相关领域
材料科学
硅酮
绝缘栅双极晶体管
复合材料
加速老化
电介质
法律工程学
电气工程
电压
光电子学
工程类
|
网址 | |
DOI | |
其它 |
期刊:IEEE Transactions on Dielectrics and Electrical Insulation 作者:Fuping Zeng; Dazhi Su; Rirong Chen; Qiang Yao; Long Li; et al 出版日期:2023-01-01 |
求助人 | |
下载 | 该求助完结已超 24 小时,文件已从服务器自动删除,无法下载。 |
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|