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![]() Si/SiO2晶体管介电击穿早期/中期产生的原子级缺陷
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期刊:Applied Physics Letters 作者:Stephen J. Moxim; Fedor V. Sharov; David Russell Hughart; Gaddi S. Haase; Colin G. McKay; et al 出版日期:2022-02-07 |
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