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Low-temperature annealing in O2 to annihilate the fixed charges in 4H-SiC/SiO2 interface induced by high-N-density nitridation process
在O2中低温退火消除高氮密度氮化工艺诱导的4H-SiC/SiO2界面固定电荷
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期刊:IEEE Electron Device Letters 作者:Tianlin Yang; Takashi Onaya; Koji Kita 出版日期:2024-05-14 |
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