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Improved particle location and isotopic screening measurements of sub-micron sized particles by Secondary Ion Mass Spectrometry
通过二次离子质谱改进亚微米尺寸颗粒的颗粒定位和同位素筛选测量
相关领域
质谱法
粒子(生态学)
分析化学(期刊)
离子
气溶胶
电感耦合等离子体质谱法
热电离质谱法
同位素
粒径
二次离子质谱法
材料科学
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期刊:Journal of Analytical Atomic Spectrometry 作者:P. M. L. Hedberg; P Peres; John B. Cliff; F. Rabemananjara; Sten Littmann; et al 出版日期:2011-02-01 |
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