Unveiling the influence of temperature and interface traps on the performance of source-all-around vertical TFET

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标题	Unveiling the influence of temperature and interface traps on the performance of source-all-around vertical TFET 揭示温度和界面陷阱对源极全向垂直TFET性能的影响相关领域阈下摆动隧道场效应晶体管跨导光电子学量子隧道材料科学摇摆晶体管异质结增益-带宽产品场效应晶体管半导体电气工程电压物理工程类放大器运算放大器 CMOS芯片声学
网址	http://dx.doi.org/10.1016/j.mejo.2024.106201
DOI	10.1016/j.mejo.2024.106201 doi
求助人	李沐唅在 2024-12-31 09:15:45 发布自贵州，悬赏 10 积分
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