标题 |
Study on Dislocation Annihilation Mechanism of the High-Quality GaN Grown on Sputtered AlN/PSS and Its Application in Green Light-Emitting Diodes
溅射AlN/PSS上高质量GaN的位错湮灭机理及其在绿光二极管中的应用研究
相关领域
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光电子学
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二极管
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期刊:IEEE Transactions on Electron Devices 作者:Ruoshi Peng; Xijun Meng; Shengrui Xu; Jincheng Zhang; Peixian Li; et al 出版日期:2019-05-01 |
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