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 Curves-Based Similarity Method (CBSM) for Defect Depth Quantization 基于曲线相似性的缺陷深度量化方法
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期刊：IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement 作者：Pengbin Yang; Xiuyun Zhou; Ruijie He; Zhen Liu 出版日期：2023-01-01 |
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