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 Resolution of Customer Return Non-Volatile Memory Data Retention Bit Failures through Bit Map Verification and Bit Cell Characterization by Nanoprobe Analysis 通过位图验证和纳米探针分析的位单元表征解决客户退货非易失性存储器数据保留位故障
相关领域
计算机科学
签名（拓扑）
晶体管
存储单元
非易失性存储器
纳米探针
逻辑门
位（键）
数据保留
计算机硬件
电气工程
材料科学
工程类
电压
算法
纳米技术
几何学
数学
计算机安全
纳米颗粒
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期刊：Proceedings - International Symposium for Testing and Failure Analysis 作者：Randal Mulder 出版日期：2021-10-28 |
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