标题 |
Nano-Chemical and Contact Resistivity Characterization of Parasitic Oxides at Metal/TCO Interfaces
金属/TCO界面寄生氧化物的纳米化学和接触电阻率表征
相关领域
X射线光电子能谱
材料科学
表征(材料科学)
硅
电接点
电子能量损失谱
光电子学
透射电子显微镜
串联
氧化物
纳米技术
分析化学(期刊)
图层(电子)
化学工程
化学
复合材料
冶金
工程类
色谱法
|
网址 | |
DOI | |
其它 |
期刊: 作者:Stefan Lange; Angelika Hähnel; Gao Yiding; Stephan Krause; Mikhail Rumiantcev; et al 出版日期:2021-06-20 |
求助人 | |
下载 | 该求助完结已超 24 小时,文件已从服务器自动删除,无法下载。 |
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|