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Indentation Tests for Sintered Silver in Die-Attach Interconnection After Thermal Cycling
热循环后模头连接互连中烧银的压入测试
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期刊:Journal of Electronic Packaging 作者:Fei Qin; Shuai Zhao; Yanwei Dai; Lingyun Liu; Tong An; et al 出版日期:2021-12-27 |
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