| 标题 |
 Quantitative analysis of the Ge concentration in a SiGe quantum well: comparison of low-energy RBS and SIMS measurements SiGe量子阱中Ge浓度的定量分析：低能RBS和SIMS测量的比较
相关领域
锗
分析化学（期刊）
化学
二次离子质谱法
卢瑟福背散射光谱法
兴奋剂
分子束外延
锑
质谱法
材料科学
离子
外延
硅
光电子学
图层（电子）
无机化学
有机化学
色谱法
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊：Analytical and Bioanalytical Chemistry 作者：Dragan Krecar; Martin Rösner; M. Draxler; Péter Bauer; Herbert Hutter 出版日期：2005-12-07 |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时，文件已从服务器自动删除，无法下载。 |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
不配.
Singularity
一一
坚强的广山
从容芮
Leonardi
Yziii
paparazzi221
eternity136
pluto
8R60d8
shinysparrow
xiaoming
HEIKU
寻道图强
iNk
加菲丰丰
tuanheqi
rosalieshi
好困
皖公网安备34019202002308
