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[高分]
 Evaluation of Temperature and Germanium Concentration Dependence of EXAFS Oscillations in Si-Rich Silicon Germanium Thin Films 富硅硅砷薄膜EXAW振荡对温度和砷浓度的依赖性评估
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期刊：Meeting abstracts/Meeting abstracts (Electrochemical Society. CD-ROM) 作者：Kazutoshi Yoshioka; Ryo Yokogawa; Masato Koharada; Haruki Takeuchi; Gai Ogasawara; et al 出版日期：2020-11-23 |
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