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 Measurement of the Gibbsian interfacial excess of solute at an interface of arbitrary geometry using three-dimensional atom probe microscopy 用三维原子探针显微镜测量任意几何界面处溶质的吉布斯界面过量
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期刊：Materials Science and Engineering A 作者：Olof C. Hellman; David N. Seidman 出版日期：2002-04-01 |
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