Application of electron tomography for comprehensive determination of III-V interface properties

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标题	Application of electron tomography for comprehensive determination of III-V interface properties 电子层析技术在III-V界面性质综合测定中的应用相关领域表面光洁度材料科学透射电子显微镜各向异性接口（物质）表征（材料科学）电子电子断层摄影术均方根光学扫描透射电子显微镜物理纳米技术复合材料毛细管数毛细管作用量子力学
网址	https://doi.org/10.1016/j.ultramic.2021.113261
DOI	10.1016/j.ultramic.2021.113261 doi
其它	期刊：Ultramicroscopy 作者：Lars Nicolai; K. Biermann; A. Trampert 出版日期：2021-03-18
求助人	舒心傲蕾在 2025-04-25 12:19:34 发布自江苏，悬赏 10 积分
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