标题 |
Ice/Solid Adhesion Analysis Using Low-Temperature Raman Microprobe Shear Apparatus
利用低温拉曼微探针剪切仪进行冰/固体粘附分析
相关领域
材料科学
复合材料
胶粘剂
微探针
拉曼光谱
剪切(物理)
聚合物
粘结强度
光学
矿物学
化学
物理
图层(电子)
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其它 |
期刊:Applied spectroscopy 作者:Nishikant Sonwalkar; S. Shyam Sunder; Shiv K. Sharma 出版日期:1993-10-01 |
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