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Impact of Rapid Thermal Processing on Bulk Lifetime and Surface Recombination Velocity of Crystalline Silicon With Passivating Tunnel Oxide Contacts
快速热处理对钝化隧道氧化物接触晶体硅体寿命和表面复合速度的影响
相关领域
硅
材料科学
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光电子学
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10.22541/au.172115388.82024035/v1
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期刊:Progress in Photovoltaics: Research and Applications 作者:F.‐J. Haug; A. Morisset; M. Lehmann; S. Libraro; E. Genç; et al 出版日期:2025 |
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