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Review on the Reliability Mechanisms of SiC Power MOSFETs: A Comparison Between Planar-Gate and Trench-Gate Structures
SiC功率MOSFETs可靠性机制综述:平面栅极与沟槽栅极结构的比较
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期刊:IEEE Transactions on Power Electronics 作者:Jiaxing Wei; Zhaoxiang Wei; Hao Fu; Junhou Cao; Tuanzhuang Wu; et al 出版日期:2023-04-11 |
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